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  • DP031-JU-5.7L雙頭探針

    DP031-JU-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:DP031-JU-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭、爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • DP031-JJ-5.7L雙頭探針

    DP031-JJ-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:DP031-JJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP031-BJ-5.7L雙頭探針

    DP031-BJ-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:DP031-BJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為尖頭、圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP031-UJ-5.7L 雙頭探針

    DP031-UJ-5.7L 雙頭探針

    產(chǎn)品型號:031-UJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為爪頭、圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP031-BF-5.7L雙頭探針

    DP031-BF-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:031-BF-5.7 L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為尖頭、爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP031-UU-5.7L雙頭探針

    DP031-UU-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:031-UU-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型分為爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • DP031-JB-5.7L雙頭探針

    DP031-JB-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:031-JB-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭,尖頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP031-BU-5.7L雙頭探針

    DP031-BU-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:031-BU-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型分為尖頭、爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP031-BB-5.7L雙頭探針

    DP031-BB-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:031-BB-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為尖頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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探針為什么使用一段時間后電阻值增大?

探針為什么使用一段時間后電阻值增大?

探針使用一段時間后電阻值增大,主要有以下幾方面原因:1. 氧化- 當(dāng)探針與空氣或其他氧化劑接觸時,其表面可能會發(fā)生氧化反應(yīng)。例如,金屬探針在空氣中長時間放置,會與氧氣反應(yīng)生成金屬氧化物,這些氧化物的導(dǎo)電性通常比純金屬差,從而形成絕緣層或高電阻層,導(dǎo)致探針的電阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能較好的材料制成的探針,在長期使用過程中,也會逐漸吸附一定量的氧氣或其他氧化性物質(zhì),進(jìn)而改變其表面的化學(xué)組成和電阻率。2. 磨損- 在頻繁使用或與其他物體接觸、摩擦的過程中,探針的表面會逐漸磨損。磨損會破壞探針表面的完整性,使導(dǎo)電通路受損或變窄,增加電流通過時的阻力,導(dǎo)致電阻值上升。比如,用于測試電路板上焊點(diǎn)的探針,在多次接觸焊點(diǎn)后,其尖端可能會磨損,從而使接觸電阻增大。- 長期的磨損還可能導(dǎo)致探針表面的粗糙度增加,進(jìn)一步影響

2025-03-11

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